信号反射噪声的改善方法及仿真验证
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【摘要】0 引言 随着芯片生产工艺的改进,信号的上升时间越来越短,信号中包含的高频成分就越多,高频分量和通道间相互作用就可能产生严重的信号完整性问题。如果在产品设计周期中能尽
0 引言
随着芯片生产工艺的改进,信号的上升时间越来越短,信号中包含的高频成分就越多,高频分量和通道间相互作用就可能产生严重的信号完整性问题。如果在产品设计周期中能尽早确定和消除信号完整性问题,产品的研制效率就可大大提升。
信号沿互连线传播时受到的瞬时阻抗发生变化时,一部分信号将被反射,另一部分发生失真并继续传播下去,这一原理正是单一线网中多数信号完整性问题产生的主要原因。只要信号遇到瞬态阻抗突变,就会发生发射使信号质量下降,一旦超出噪声容限就会造成误触发。
保持互连传输线阻抗恒定、进行端接匹配、优化拓扑结构等措施均是为了得到更优的信号质量。文中对信号反射问题进行了理论分析,提出信号反射噪声的改善方法,并结合工程案例进行了信号完整性仿真验证。
1 信号反射的形成
1.1 信号反射形成机理
信号沿传输线传输时,其路径上每一处的瞬态阻抗发生改变时,一部分信号将被反射,另一部分信号将继续向前传输。反射的信号量由瞬态阻抗的变化量决定。瞬态阻抗发生改变的地方称为阻抗突变点,即为图1中区域1和区域2的交界面。其中,Z1表示信号最初所在区域的瞬态阻抗,Z2表示信号进入区域的瞬态阻抗[1]。
图1 阻抗突变产生的反射情况
在阻抗突变处,电压和电流连续,即满足:
在突变处的阻抗关系分别为:
反射信号分量的大小由反射系数决定。联合式(1)~式(5),可得反射系数 ρ:
无论是发送端还是接收端,最终得到的波形都是入射波形和反射波形叠加的结果。
1.2 传输线不连续结构及阻抗突变测试TDR
阻抗突变也就是瞬态阻抗不连续。高速电路的不连续结构很常见,主要是互连线中的封装引线、输入门电容、信号层间的过孔、拐角、桩线、分支、测试焊盘、返回路径上的间隙、过孔区域中的颈状、线交叉、连接件等。
TDR(Time Domain Reflectometry)测试,是测量高速信号在传输线上的时域反射状况,来判断传输线阻抗特性的技术。TDR包括一个阶跃脉冲发生器和一个高速采样器,其示意如图 2所示[2]。
图2 TDR组成示意图
因为入射的阶跃脉冲的幅度是已知的,所以只要测量反射阶跃脉冲的幅度,就可以找出反射系数ρ,若仪器的输出阻抗Z0是已知的,就可以计算反射点的阻抗值Z,阻抗计算公式为:
计算原理如图3所示,测试出的TDR阻抗曲线如图4所示。
图3 TDR阻抗计算原理图
图4 TDR阻抗曲线图
1.3 信号反射的几种典型波形
信号反射典型的波形有:信号的振铃现象,如图5所示;信号边沿存在台阶的波形,如图6所示;信号边沿存在回沟的波形,如图7所示。
图5 信号存在振铃的波形图
图6 信号边沿存在台阶的波形图
图7 信号边沿存在回沟的波形图
2 消除反射的措施
消除反射的措施通常有:使导体的长度短于上升时间的传输长度、更改传输内部的不连续结构、端接匹配、优化布线的拓扑结构等。
2.1 使导体的长度短于上升时间的传输长度
反射的影响与传输线的长度、信号上升下降沿有很大关系。一般要求TD(TD为信号源端到终端的传输延迟)应小于信号脉冲边沿上升时间的20%,这样虽然信号到达负载端时产生了反射,但此时源端的信号正处于上升阶段,这样反射会在信号缓慢的上升过程中被吸收掉,从而不会影响信号电平的幅值,此时不需要进行端接匹配。
其对应的经验法则为:为了避免出现反射问题,不需要端接的传输线的长度满足[1]:
其中,Lmax为传输线的最大长度(单位inch),基底材料FR4。RT为信号脉冲边沿上升时间(单位ns)。
图8是发送端和接收端器件均一致,仅传输线长度不同时,接收端波形仿真对比,可见传输线长度大于RT时,反射会有明显影响。
图8 传输线的长度对反射的影响情况对比
实际工程中,不同性质的信号容忍的反射噪声不同,并且往往走线较长,此时应根据具体情况决定是否需要进行端接。
2.2 更改传输内部的不连续结构
通过使用可控阻抗互连线、布线采用多分支最小影响的拓扑结构、优化过孔形状、优化连接器形状、最小化几何结构的不连续性等方法使阻抗连续。
文章来源:《反射疗法与康复医学》 网址: http://www.fslfykfyx.cn/qikandaodu/2021/0726/539.html
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